JTAGMaster Teste Boundary Scan Tester e Programador In-Circuit
O ABI JtagMaster é uma solução completa para a configuração e diagnóstico de Dispositivos Lógicos Programáveis (PLD’s).
Esta unidade de testes e programação JTAG inclui:
- Testador que ultiliza metedologia “Bondary -Scan“ que observa arbitrariamente os pinos individuais de componentes que utilizam tecnologia JTAG, podendo assim determinar sua funcionalidade. Essas informações podem ser salvas em rotinas de testes customizadas nas quais podem ser inclusos figuras e datasheets.
- Uma interface programável desenvolvida para atender ao padrão industrial de arquivos JAM STAPL(Standard Test And Programming Language) e SVF(Formato Vetor Serial) para enviar instruções de programação, além de funções de teste do dispositivo. ABI utiliza padrão JTAG que assegura compatibilidade entre todos os Cí’s PLD’s. O ABI JTAG foi desenvolvido para trabalhar com o software AIM (ABI Interface Manager). Algumas das funções integradas permitem ao usuário aprender automaticamente o status do componente e informações pino-a-pino, assim como a possibilidade de gerar relatórios.
O JTAGMaster é também capaz de programar EEPROM’s usando adaptadores externos. Os arquivos binários são suportados para programação e também podem ser modificados utilizando a janela de buffer. Uma grande quantidade de modelos de EEPROM´s estão presentes em sua biblioteca, nas quais podem ser modificados facilmente. Segue abaixo os protocolos que são suportados pelo JTAGMaster.
Serial Peripheral Interface (SPI)
Inter-Integrated Circuit (I²C)
Microwire (μwire)
O JTAGMaster está disponível em dois modelos: Completo e apenas para programação. Clique aqui para visualizar a versão de programação.
